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日時 3/12-14/2014
場所 Hong Kong
内容 H. Hirose, T. Sakumura, N. Tabuchi, and T. Kiyosue, Optimum Life Test Plans of Electrical Insulation for Thermal Stress, ICEE’14, pp.668-672

絶縁体が温度によって劣化する度合いを知るための最適試験法について述べています。
関連リンク http://hirose.ces.kyutech.ac.jp/news.html
問合せ先(担当) 廣瀬英雄

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日時 3/12-14/2014
場所 Hong Kong
内容 Hirose and Y. Koyanagi, Prediction on Predictions by Ensemble Method, ICOR’14, pp.1204-1208

いくつかの予測法を総合的に用いて更に予測精度を高めようとする方法について述べています。
関連リンク http://hirose.ces.kyutech.ac.jp/news.html
問合せ先(担当) 廣瀬英雄

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